X射线成像高对比度分辨力测试卡

　　产品名称：X射线成像高对比度分辨力测试卡

　　产品编号：20250214-03

　　产品质保：12个月

　　产品简介：可以按照客户要求非标定制，以下为产品的可供参考的：技术参数与应用说明，仅供参考，更多详情请咨询：廊坊玉双仪器设备有限公司

　　X光测试线对卡（X射线成像高对比度分辨力测试卡）是一种专用于评估X射线成像系统空间分辨率的精密检测工具，广泛应用于放射卫生疗影像设备（如DR、CT）、工业无损检测及科研领域。该测试卡采用高精度铅箔材质制作，核心参数包括分辨率范围0.6-5.0LP/mm（部分型号扩展至10.0LP/mm或更高），铅当量覆盖0.05mmPb至0.1mmPb，标准尺寸为50×50mm或30×60mm，内含多组线对阵列，分组设计涵盖1.0LP/mm至20LP/mm的阶梯式分辨率检测能力。其核心用途是通过模拟不同密度的线对结构，在X射线曝光后观察成像设备对细微结构的还原能力，从而量化系统的调制传递函数（MTF）和高对比度分辨力性能，同时也可辅助判断设备焦点尺寸与半影效应影响。日常使用中需严格执行维护规范，包括定期检查线对磨损、清洁存储盒体、更换干燥剂与活性炭吸附材料（周期不超过半年至一年），并完整记录每次测试的分辨率数值及设备状态，确保检测数据的长期可比性。该测试卡可以适配GB2099、IEC60664等国际标准，可满足疾控中心、第三方检测机构对X光机、CT设备的质量控制需求，兼具操作便捷性与结果可靠性，是影像设备验收、年度校准及故障诊断的关键工具。

　　廊坊玉双仪器设备有限公司，竭诚为您服务，我司可以非标订制符合客户个性化要求的产品和设备。

　　是否可以非标订制：可以按照客户要求非标定制：X射线成像高对比度分辨力测试卡

　　产品编号：20250214-03